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异常衬度怎么算,请问怎么用衬度来圈异常

来源:整理 时间:2024-04-07 10:42:32 编辑:八论文 手机版

1,请问怎么用衬度来圈异常

你以前做过这个没?

请问怎么用衬度来圈异常

2,求助关于NAP的问题

NAP为规格化面金属量,公式为NAP=衬度×异常面积

求助关于NAP的问题

3,化探测量中的衬度公式是什么

同意楼上的观点!异常衬度也称异常清晰度,即异常平均值与异常下限(背景上限)的比值!
我是资源勘查的,地球化学课上学过衬度,不知道是不是你要找的这个衬度值:异常中指示元素的平均含量与该元素的背景上限的比值(ˉC/Ca),用来表示异常强度希望能帮到你

化探测量中的衬度公式是什么

4,如何将衬值异常换算为真值

图上好像很难还原出真值,只能旁边列个衬值与真值的系数表
图上好像很难还原出真值,只能旁边列个衬值与真值的系数表
衬植异其实就可以了,真值异常可比性就不大了。要么就分开,要么就作衬值图!
你可以把其他介质的数据按衬值矫正到岩屑或土壤中啊

5,什么是背景值衬值求答案

要搞清背景值,手想要搞清地球化学背景。所谓地球化学背景是指:在特定范围内,相同介质中广泛存在的相同指标的地球化学环境特征。背景值:反映地球化学背景的量值。衬度:是元素含量与背景值之比。异常衬度:又称衬值,异常内元素平均含量与背景值之比。原生衬度:矿床原生矿石中金属元素的平均含量与围岩中该元素的背景值之比。(据GB/T14496-1993)
背景值是剔除特异值之后样本数据的平均值,衬值是任一个数据或平均值与背景值之比

6,衬度的衍射衬度 diffraction contrast

衍射衬度是电子束透过晶体由衍射效应引起的显微象衬度,在电子显微镜中利用衍射。在这种双束条件下获得的明场象和暗场象衬度相反并且互补,衬度的计算也很简单,在材料研究中获得广泛的应用。可以调整晶体的位向获得一系列衍射,取其中的弱衍射束形成的。 衍射衬度是一种振幅衬度,它是电子波在样品下表面强度(振幅)差异的反映,衬度来源主要有以下几种:1.两个晶粒的取向差异使它们偏离布拉格衍射的程度不同而形成的衬度;2.缺陷或应变场的存在,使晶体的局部产生畸变,从而使其布拉格条件改变而形成的衬度;3.微区元素的富集或第二相粒子的存在,有可能使其晶面间距发生变化,导致布拉格条件的改变从而形成衬度,还包括第二相由于结构因子的变化而显示衬度;4.等厚条纹,完整晶体中随厚度的变化而显示出来的衬度;5.等倾条纹,在完整晶体中,由于弯曲程度不同(偏离矢量不同)而引起的衬度。 1.衍衬成像是单束、无干涉成像,得到的并不是样品的真实像,但是,衍射衬度像上衬度分布反映了样品出射面各点处成像束的强度分布,它是入射电子波与样品的物质波交互作用后的结果,携带了晶体散射体内部的结构信息,特别是缺陷引起的衬度;2.衍衬成像对晶体的不完整性非常敏感;3.衍衬成像所显示的材料结构的细节,对取向也是敏感的;4.衍衬成像反映的是晶体内部的组织结构特征,而质量厚度衬度反映的基本上是样品的形貌特征。

7,UCLCLLCL分别代表什么怎么计算

CL代表控制中心线;UCL代表上控制线;LCL代表下控制线。它们的位置根据下式计算:控制中心线:CL=μ;控制上限线:UCL=μ+3σ;控制下限线CL=μ-3σ
spc管制图   「管制图」:是实施质量管理作业时,最有效最快速的工具之一,它是美国品管大师博士应用统计数学理论于年所设计的,   它不但能控制制程中质量,且能分析判定制程能力,更可作为新产品设计及制成品验收时的参考。简单说,在   生产过程中,从设计、制造到过程检验三个阶段,皆需用到它,企业如能有效运用此质量知识,便能确保其   在市场上的竞争优势。   (一)、控制图定义   控制图是用于分析和控制过程质量的一种方法。控制图是一种带有控制界限的反映过程质量的记录图形,图的纵轴代表产品质量特性值(或由质量特性值获得的某种统计量);横轴代表按时间顺序(自左至右)抽取的各个样本号;图内有中心线(记为cl)、上控制界限(记为ucl)和下控制界限(记为lcl)三条线。   (二)、控制图的目的   控制图和一般的统计图不同,因其不仅能将数值以曲线表示出来,以观其变异之趋势,且能显示变异属于偶然性或非偶然性,以指示某种现象是否正常,而采取适当的措施。   (三)、控制图原理   工序处于稳定状态下,其计量值的分布大致符合正态分布。由正态分布的性质可知:质量数据出现在平均值的正负三个标准偏差(x?3?)之外的概率仅为0.27%。这是一个很小的概率,根据概率论 “视小概率事件为实际上不可能” 的原理,可以认为:出现在x?3?区间外的事件是异常波动,它的发生是由于异常原因使其总体的分布偏离了正常位置。   控制限的宽度就是根据这一原理定为?3?。   (四)、“?”及“?”风险定义   根据控制限作出的判断也可能产生错误。可能产生的错误有两类。   第一类错误是把正常判为异常,它的概率为?,也就是说,工序过程并没有发生异常,只是由于随机的原因引起了数据过大波动,少数数据越出了控制限,使人误将正常判为异常。 虚发警报, 由于徒劳地查找原因并为此采取了相应的措施,从而造成损失. 因此, 第一种错误又称为徒劳错误.   第二类错误是将异常判为正常,它的概率记为?,即工序中确实发生了异常,但数据没有越出控制限,没有反映出异常,因而使人将异常误判为正常。漏发警报,过程已经处于不稳定状态, 但并未采取相应的措施,从而不合格品增加, 也造成损失.   两类错误不能同时避免,减少第一类错误(?),就会增加第二类错误(?),反之亦然。   (五)、规格界限和控制界限   规格界限:是用以规定质量特性的最大(小)许可值。   上规格界限:usl;下规格界限:lsl; 。   控制界限:是从实际生产出来的产品中抽取一定数量的产品,并进行检测,从所得观测值中计算出来者。   上控制界限:ucl;下控制界限:lcl;   (六)、控制图的种类   1、按数据性质分类:   计量型控制图   平均数与极差控制图( chart)   平均数与标准差控制图( chart)   中位数与极差控制图( chart)   个别值与移动极差控制图( chart)   计数值控制图   不良率控制图(p chart)   不良数控制图(np chart,又称np chart或d chart)   缺点数控制图(c chart)   单位缺点数控制图(u chart)   2、按控制图的用途分类   分析用控制图:根据样本数据计算出控制图的中心线和上、下控制界限,画出控制图,以便分析和判断过程是否处于于稳定状态。如果分析结果显示过程有异常波动时,首先找出原因,采取措施,然后重新抽取样本、测定数据、重新计算控制图界限进行分析。   控制用控制图:经过上述分析证实过程稳定并能满足质量要求,此时的控制图可以用于现场对日常的过程质量进行控制。
UCL=控制上限LCL=控制下限LCL=CL-3σUCL=CL+3σ
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